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SIRIUS Unique Scan 8M为最高端的技术, 满足您最苛刻的3D 数字化扫描需求。SIRIUS Unique Scan铭宇三维扫光学描仪 系列为您提供高速的扫描/ 测量速度, 针对形状复杂的零件提供高分辨率的细节呈现。
测量原理：
SIRIUS Unique Scan 借助光栅智能投影单元将具有相位编码信息的条纹投影到工件的表面，两个高分辨率的工业CCD进行同步数据采集，通过立体相机测量原理进行相位计算与三维分析，SIRIUS Unique Scan 在极短的时间内可以获得工件表面的三维点云数据。ScanTEK Software 专业测量软件以参考点作为基准，对不同位置/ 角度的点云进行自动拼接与对齐,从而获得完整的高精度、高密度的三维扫描结果。
产品特点：
采用ScanTEK Software 获得完美的解决方案, 在进行数据采集与处理的同时, 可以让您高效快捷的操作；
可生成用于单独分析的色差对比图和测量报告；
符合人体工程学的设计, 确保用户在长时间使用中不易疲劳, 获得最佳的使用体验；
整套设备操作简单, 即使缺乏经验的新手也可以快速的生成可靠的测量结果。