市面上关于测厚仪器的测量原理有很多种，有有损的，有无损的，甚至有一部分超声波测量原理的仪器还可以用于测量非金属基体的涂层厚度。以下我们就重点介绍一下金属底材涂层测厚仪https://www.linshangtech.cn/tech/tech1689.html测量金属基体的涂层厚度的测量原理。
要想了解金属底材涂层测厚仪首先要从膜厚仪的基本工作原理和测量方式入手。现在的金属底材涂层测厚仪主要分为两种类型，手持式和台式，并且##部分都是铁铝两用，兼容了磁性以及涡流原理。

而金属底材涂层测厚仪既有磁性测量原理，也有涡流测量原理。磁性测量用于检测磁性金属基材上的非磁性涂层厚度，涡流测量用于检测非磁性基体上的非导电涂层厚度。
磁性法适用于磁性金属基体上的非磁性涂层的测量。当测头和覆盖层接触时，测头和磁性金属的基体构成一闭合的磁路，由于非磁性覆盖层的存在，会使磁路磁阻变化，通过测量其变化导出覆盖层的厚度。

涡流法适用于测量##多数阳极氧化覆盖层的厚度。利用高频交变电流在线圈中产生的电磁场，当测头和覆盖层接触时，金属的基体上会产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的##小就可以导出覆盖层的厚度；